(編集中)正弦波(正弦曲線)正弦波(サインカーブ)3相から1相を取り出したバージョン。上記は電流で考えてほしい。上記のカーブはいわゆる正弦波と呼ばれサインカーブとも呼ばれる。交流の電流でも電圧でもこの形をしている。サインカーブについて詳しく Lontenrea 6本セット ブレッドボード ジャンパーワイヤ ジャンパーケーブル ジャンパーケーブル ジャンパ線 接続線... 5V/24V SquareWave信号変換モジュール レベルコンバータ 信号発生器 信号コンバータ NPN/PNP〜NPN ... ELEGOO Arduino用のUNO R3 最終版スタータキット UNOチュートリアル付 (63 Items). スペクトルの推定誤差を評価 Copyright © 2019-2020 電気noobが一人前の電気主任技術者になるまで All Rights Reserved. 試験要求事項が満たされることを確実にする手段として,多くの監視点を使用する。, 例えば,大形で複雑な供試品のような特別の場合,固定点から離れた点を,製品規格に規定, 多くの小さな供試品を一つの取付具に取り付ける場合,又は幾つかの取付点がある小さな供, 試品の場合,制御信号を取り出すために,1 個の監視点(すなわち,基準点)を選択しても, よい。したがって,この信号は,供試品の取付点よりは,取付具を代表している。この方法, は,負荷状態の取付具の最低共振振動数が試験の上限振動数より十分高いときだけ許される。, 基準点 (reference point)   [JIS C 0040 の 3.2.2 の定義と技術的に同一]  監視点から選択した点, で,この規格の要求事項を満足させるように試験を制御するために,この点の信号を使用する。, 変調振動数 (modurating frequency)   試験振動数を変調する振動数(附属書の A.2,A.3 及び付図 1, 高応力サイクル (high-stress cycles)   供試品に高い応力による疲労を発生させる応答のサイクル。, 備考  供試品の応答運動ができるだけ重ならないように休止時間を設定すべきであり,休止時間は次, 推奨試験軸  (preferred testing axes)    供試品の最も弱い軸を含む直交する 3 軸。, サインビート (sine beat)   低振動数の正弦波で変調された単一振動数の連続正弦波。一つのサイン, 掃引サイクル (sweep cycle)   [JIS C 0040 の 3.の定義と技術的に同じ]  特定の振動数範囲の各方, 試験振動数 (test frequency)   試験中に供試品を加振する振動数。, 規定振動数  (predetermined test frequency)    製品規格に規定された振動数。, 検査による試験振動数  (investigated test frequency)    振動応答検査で決定した振動数。, 備考  これは,半周期の変調波のピーク値に等しいか又は小さくてもその差は無視できるほどである。, 試験要求事項  振動応答検査に関する要求事項を 4.1 に,サインビート試験に関しては 4.2 に,取付け, に関しては 4.3 に示す。振動応答検査及びサインビート試験に適用する許容差の比較を,, 製品規格に振動応答検査の規定がある場合,特に次の 4.1.1∼4.1.8 を考慮して,JIS C 0040 の規定に, 基本運動  基本運動は,時間に関する正弦関数とし,製品規格に規定する振動台上の供試品の固定, 点(複数)の運動は,次の 4.1.2,4.13 及び 4.1.5 に規定する限界内の,実質上同位相の並進運動とする。, 横運動  規定軸に直交する軸方向の監視点の振動の最大値は,基本運動の 50%以下とする。例えば,, 小形の供試品のような場合,製品規格に規定があれば,横運動のピーク値の許容値を 25%に制限してもよ, ある振動数で,又は大形の若しくは質量の大きな供試品の場合,これらの値を実現することが困難なこ, 附属書 A の A.1 参照)。そのような場合,製品規格には,次のどれを適用するかを規定する。, 回転運動  振動台の不必要な回転運動が問題となりそうな場合,試験報告書に記録すべき許容値を,, 基準点  製品規格には,1 点制御又は多点制御のどちらを使うかを規定する。製品規格に多点制, 御を規定する場合,監視点の信号の平均値を規定値に制御するのか,又は選択した点の値を制御するのか, 監視点  ある振動数で,又は大形の若しくは質量の大きな供試品の場合,4.1.6.2 で要求する許容, 加速度ひずみ  試験振動数の 5 倍までの振動数帯域を分析範囲として,基準点の加速度ひずみの測, 備考  これを実現できないことがあるが,その場合は,例えば,トラッキングフィルタを使用するこ, とによって,制御信号の基本振動数の振幅を規定値に修正すれば,25%を超えるひずみが許容, 大形の又は複雑な供試品の場合に,振動数範囲の一部でひずみの規定値を満足せず,トラッキングフィ, ルタを使用することが実際的でない場合は,加速度の基本振動数成分を規定値に修正する必要はないが,, トラッキングフィルタを使用した場合もしない場合も,そのシグナルトレランスとその影響を受ける振, 振動振幅の許容差  監視点及び基準点の規定軸方向の基本運動は,次の許容差内で規定値に等しく, 振動数範囲及び許容差  振動数範囲は,5.1.2 の表 2∼4 から選択し,少なくともサインビートの振, 掃引  振動数を,時間に対して指数関数的に,毎分 1 オクターブを超えない速度で,連続的に変化, 備考  ディジタル制御装置では,掃引は厳密には“連続的”ではないが,この違いは実用上重要では, 基本運動  基本運動は,時間に関するサインビート関数とし,製品規格に定める振動台上の供試品, の固定点(複数)の運動は,次の 4.2.2,4.2.3 及び 4.2.4 に規定する限界内の,実質上同位相で平行な直線, 横運動  規定軸に直交する軸方向の監視点の変位のピーク値は,製品規格に規定がなければ,サイ, ンビートの規定ピーク値の 25%以下とする。測定振動数帯域は,規定振動数範囲であればよい。, ある振動数の場合,大形の又は質量の大きな供試品の場合,これらの値を実現することが困難なことが, 回転運動  振動台の不必要な回転運動が問題となりそうな場合,試験報告書に記録する許容値を製, ある振動数の場合,大形の又は質量の大きな供試品の場合,これらの値を実現することが困難な場合が, 附属書 A の A.1 参照)。そのような場合,製品規格に,より広い許容差を規定するか,又は使用し, 検査による試験振動数  振動応答検査で得た臨界振動数と試験振動数の偏差は,±2%以内とする。, 取付け  供試品は,JIS C 0047 を引用する JIS C 0040 に従って取り付ける。, 通常,防振装置に取り付けられる供試品を防振装置なしで試験する必要がある場合,規定の加振レベル, 備考  通常“使用する”供試品の取付構造物は,試験に含める。製品規格には,試験中の供試品の姿, 勢及び取付条件を規定するものとし,試験しない条件に拡張することの正当な理由(例えば,, 重力の効果が供試品の振舞いに影響を与えないことを証明するなど)を明らかにできなければ,, その試験した条件だけが,この規格の要求事項に適合する唯一の条件であると考えられる。, 試験振動数の決定  使用する試験振動数は,振動応答検査で決定する臨界振動数,規定振動数又は, 振動応答検査では臨界振動数が発見されず,製品規格に試験振動数を選択する方法が規定されていない, 場合,5.1.2 に示す値から選択した試験振動数範囲を,1/2 オクターブ以下のステップの振動数で試験を実, 試験振動数範囲  試験振動数範囲は,下限振動数を表 2 から,上限振動数を表 3 から選択して,製, 試験レベル  製品規格には,各軸の試験レベル(変位,加速度又はその両方)を規定する(附属書, 折れ点振動数未満のすべてのピーク値は,一定変位で規定し,これ以上の振動数では一定加速度で規定, ここに定める折れ点振動数を採用することが適切ではない場合,製品規格に別の折れ点振動数を採用し, て,変位と加速度の一組のピーク値を規定してもよい。特別の場合は,一つより多くの折れ点振動数を規, サインビート試験波  サインビートの試験波形は,5.3.1 及び 5.3.2 に従って,試験振動数及びサイン, サインビート内のサイクル数  サインビート内のサイクル数は,次の値から選択して,製品規格に, 備考  サイクル数が多いと応答スペクトルが狭帯域となり,応答の最大値が高くなる(付図 6 参照)。, 臨界振動数の不確かさを考慮すると応答スペクトルが広帯域となるような少ないサイクル数に, する必要がある。サイクル数 5 は,臨界振動数の不確かさと応答の最大値を考慮した妥協によ, 変調振動数  変調振動数は,試験振動数及びサインビート内のサイクル数から求める(附属書 A, サインビート回数  サインビートの回数は,次のシリーズから選択して,製品規格に規定する(付, 低サイクル高応力疲労効果  製品規格では,規定の応力値を超える高応力サイクル数を規定しても, 概要  製品規格に規定がなければ,8.2 及び 8.3 の規定に従って,三つの推奨試験軸の各軸方向に供, 製品規格に,振動台に加える加振力の最大限界を設定して,規定の試験レベルの制御を補正する規定が, 振動応答検査  製品規格に振動応答検査の規定がある場合,振動中の供試品の振舞いを調査するた, めに試験振動数範囲の振動応答検査を実施する。振動応答検査は,試験振動数範囲の正弦波で,製品規格, に規定された検査レベルで実施する。振動応答検査は,通常,毎分 1 オクターブを超えない速度の対数掃, 引で実施するが,より正確な応答特性の決定が可能であれば,掃引速度を下げてもよい。過度の耐久は避, 加振のピーク値は,供試品の応答がサインビート試験中より小さくなるような値で,臨界振動数を検出, 製品規格に,振動応答検査中に供試品を動作させる規定があれば,これを実施する。供試品を動作させ, ているので機械振動特性を評価できない場合は,供試品を動作させない振動応答検査を別に実施する。こ, の段階では,臨界振動数を決定するために供試品を検査し,その結果を試験報告書に記録する。, 必要な場合,サインビート試験の前後の臨界振動数を比較するために,製品規格でサインビート試験完, 了後の振動応答検査の追加を規定してもよい。製品規格では,臨界振動数が変化した場合に取るべき処置, サインビート試験  サインビート試験の厳しさの値は,5.に基づいて,製品規格に規定されている。, 供試品の応答運動の重要な重なりが起きないように,引き続くサインビートの間に休止を設ける。基準点, の実際の制御信号の記録は,使用したフィルタの効果を含めて試験報告書に記録する。製品規格には,単, 単軸試験  特に規定がない限り,各推奨試験軸について順番に実施する単軸試験を推奨する。製品, 軸試験  製品規格に 2 軸試験の規定がある場合,二つの推奨試験軸に沿って,サインビートを同, 時に与えて試験を実施する。各試験振動数において,二つの信号の位相差を 0°及び 180°とした両方の試, 中間測定  製品規格に中間測定が規定されている場合,供試品を規定のサインビート回数の間動作さ, 回復  製品規格に回復の規定がある場合,試験の後の最終測定の前に,供試品の,例えば,温度等の, 製品規格に規定する事項  この試験が製品規格に含まれている場合,可能な限り次の事項の詳細を,, 序文  供試品が種々の振動力に耐えることを実証するための多くの認められた試験方法がある。それ, らの試験方法には,単純な連続正弦波から複雑な高度に特化された時刻歴までがあり,各試験方法は,特, 定の要求事項若しくは状況に,又は特定の振動環境に最も適したものである。この規格は,実際に遭遇す, ると予測されるのと同等の効果を試験室内で再現する方法を規定するのものであって,実際の環境を再現, サインビート試験方法は,使用中に,正確には定義できない短時間のパルス的な力又は周期的な力に遭, 遇する機器の試験に適している。この試験は,使用状態でランダム又は多重振動数の励振に遭遇する構造, 物に取り付けられる機器の試験に特に適している。これらの構造物は,その共振振動数のサインビート運, 動を発生させ,これが対象とする機器の入力となる。したがって,サインビート試験波は,そのように取, り付けられた機器に,実際に見られる運動に近い励振を与える。さらに,供試品の減衰が同じなら,サイ, 適切な許容差を選択した。値を標準化したので,機器を振動の厳しさに耐える能力に基づいて分類するこ, 振動試験では,通常,要求振動数範囲内の供試品の臨界振動数を調べるために,振動応答検査を実施す, る。次に,ある種類の耐久試験を実施するが,しばしば,供試品をこれらの各臨界振動数で規定の回数振, 振動応答検査は,通常,要求振動数範囲を 1 往復掃引する単軸加振で行う。振動応答検査の振動振幅は,, 耐久試験に匹敵する効果を発生するほど大きくなく,臨界振動数を決定するために十分低い掃引速度とす, 耐久試験の前後で,共振又は他の応答が発生する振動数が変化するかどうかを明らかにするために,振, 動応答検査を実施することができる。振動数の変化が疲労の発生を示すことがあり,したがって,供試品, 大形の又は質量の大きい供試品の場合,若しくはその重心が供試品の中心から大きく離れている場合,, 注意することが望ましい。そのような供試品は振動台の横運動又は回転運動を発生させる傾向がある。そ, サインビート試験は,振動応答検査で決定した振動数で,規定の振動数で又はその両方で実施する。振, 動数が決定又は規定されない場合,通常,規定振動数範囲の全域にわたって,1/2 オクターブのステップ, で試験を実施する。臨界振動数の数が増えるに従って,疲労が累積するので,サインビート方法は適切で, サインビート関数(本体の 3.12 参照)  サインビートは,一般に,数学的に次の式で表される。, 加速度,速度及び変位は互いに関係があるので,基本関数としてこれらの一つだけを選択することがで, この影響を避けるために,規準信号として速度を基準とした公式を A.2.2 に示す。, 各サインビートの関係  速度を基準関数とする加速度,速度及び変位のサインビートの関係を次に, は加速度の変調振動数に対する試験振動数の比で,n をサインビートの加速度内のサイクル数とする, 備考1. 時間領域で分割し、そのそれぞれのスペクトルの平均を. 東日本の電源周波数は50Hzなので1秒間にこの正弦波(正弦曲線)を50回繰り返す。, 電験三種合格体験記と独学での勉強方法と使用した参考書等(第三種電気主任技術者試験). Kuman 高精度 信号発生器 デジタル DDS信号発生器 周波数計 60MHz 250MSa/s 2チャンネル 任意波形 ... 【品質保証】1PCS 7.83Hz超低周波パルス発生器 パルスジェネレータ スイッチ付き 高精度デジタル信号源パルスジェネレ... ELEGOO Arduino用の 2.8 Inches TFT ターチスクリーン カードソケット付, SODIAL 50MHz水晶発振周波数カウンタテスターDIYキット 5デジタルディスプレイ解像度 赤, KKmoon 1Hz-50MHz 周波数計 カウンタ測定器 モジュール 7V-9V 50mA, 白光(HAKKO) セラミックヒーターはんだこて専用こて台 クリーニングスポンジ付き FH300-81, HiLetgo® 10個セット PAM8403 2*3W クラスD ミニ デジタル パワー アンプボード AMP 2.5-5V入力 [並行輸入品], KKHMF NE555 パルス周波数正方形波信号ジェネレーター デューティサイクル調整可能なモジュール, KKmoon DDSファンクション信号発生器モジュール DIYキット正弦方形こぎり三角波型【並行輸入品】, KKmoon DDS機能 信号発生器 1HZ-500KHZ 正弦+ 方形+ 三角形+ 鋸歯波形.

上記のカーブはいわゆる正弦波と呼ばれサインカーブとも呼ばれる。交流の電流でも電圧でもこの形をしている。, サインカーブについて詳しくは別途紹介するが、式で表すとy=sinθになるからサインカーブと呼ばれる。0度から360度で1周期となっており、これが1Hzになる。東日本の電源周波数は50Hzなので1秒間にこの正弦波(正弦曲線)を50回繰り返す。, この回転磁界は固定子コイルに電源を供給することで磁界が発生する。正確には電流を流すと磁界が発生。, 上記の正弦曲線は三相交流のうち分かりやすく一相分を取り出したものだが、固定子コイルに交流電流を流すと磁界が発生する。三相交流の場合120度ずつ電気角がずれている為、電流は時間と共に正転・反転を繰り返し、磁界も同様に正転・反転を繰り返す。これにより交流電流は三相合わせた合成電流(合成磁界)となり、時間と共に方向が変わり、結果として固定子は動いていないものの合成磁界が回転しているように見え、回転磁界が発生している。, コイルに流れた電流はその各々の時間に伴った向きで流れ、右ねじの法則に伴い合成磁界となり方向が決定される。この合成磁界が瞬く間に変化し回転磁界(すなわち同期速度)となる。, 時間の経過と共に固定子に流れる電流の位相が変化し、コイルに流れる電流の方向が変わる。, このようにして三相電源の供給によって電流及び磁界の方向が時間によって変化するが、この合成磁界の方向が変わる為磁界が回転しているように見え、回転磁界は同期速度と呼ばれて数式で次のように表される。, 通常使用される事が多いのは一分間の回転数である。(電動機の銘版も一分間の回転数が記載されている), 固定子コイルに電流を流す事によって磁界が発生し回転磁界が生まれるが、磁界(磁石)には当然N極とS極がある。これらを磁極と呼ぶ。, 2極の電動機では、一相分のコイルの入口と出口×三相分であり、回転磁界が一回転するには単純に三相交流の一周期分となる。つまり、電源周波数が50Hzならば一周期1Hzあたり磁界は1回転する。周波数は一秒間に50Hzなので磁界も一秒間あたり50回転する。(ただし2極の場合), 2極の場合他の相とは120度ずれているが、4極の場合さらに半分となり60度ずつコイルがずれるように配置されている。, 次回のコメントで使用するためブラウザーに自分の名前、メールアドレス、サイトを保存する。, 電気noob(素人)です。かれこれ10年電気の事やってます。独身30代。電気主任として独立を目指しています。現在の仕事は建設業です。保有資格は一種電工、電験三種、危険物乙4、二級ボイラー、2級電気工事施工管理。エネルギー管理士(電気)。.

方法. 一つのサインビートは,数学的に,二つのコサイン波の和として表現することができる。こ, サインビートを時間に関して微分又は積分して得られたすべての信号は,A.2.1 に定義したよ, これは厳密な数学的証明を意図したものではなく,すべてのサインビートの終点の値をゼロ, 試験レベル(本体の 5.2 参照)  変位,速度及び加速度の試験レベルの値は,十分正確に,固定振動, 低サイクル高応力疲労(本体の 5.5 参照)  振動(例えば,地震,爆発によって発生する。)によって, 発生する低サイクル高応力疲労の効果を再現するには,特定の環境を可能な限り正確にシミュレートする, ことが必要である。環境が十分に分からない場合又はシミュレートすることが困難な場合,不確かさを許, すために安全余裕を含める必要がある。したがって,試験レベルのピーク値及びサインビートの回数は,, 高レベル繰返し加振の効果を完全には考慮しないこの方法は,しばしば,十分ではないことがある。供, 試品の共振振動数で低サイクル高応力が発生したとき供試品は危険な状態となり,供試品に有害な非弾性. この商品を購入した、Amazonコミュニティーのメンバーである出品者、メーカー、またはカスタマーが質問にお答えします。, 有効な質問が入力されていることを確認してください。質問は編集することができます。または、そのまま投稿してください。, 説明:1針、針12正弦波形調整端子。 ピン2正弦波出力; ピン3三角波出力。 ピン4、ピン5:周波数とデューティ・サイクル(または非対称波形)の調整。 ピン6:Vの+、正電源。 ピン7周波数オフセット。 ピン8周波数調整入力端子ピン9:方形波出力。これは開路出力端子、仕事を考慮するべき相応の積極的な電源の荷重抵抗端末からピンを得てTTL互換-方形波出力、荷重抵抗5 V電源供給に接続しなければならないピン10:時限コンデンサ端子ピン11:V -、マイナス電源端子または地上。使用時に陽性陰性と電源、Pin11負電圧給電、出力波形については対称0 V;使用時に単一の電源陽極、Pinじゅういち接地、出力波形は単極の均匀の電圧はVCC /213ピンと14ピン空針同スイート専門の週波数範囲は50-5 kHz、Sスイッチを切り替えて二つのバンド、RP1は週波数調整、RP2週期は責任を調整し、調整RP3は正絃波ひずみ。回路を採用して12 V単電源供給、入力からX1、 X2、X3は、波形出力側、あなたが3種類の出力波形観察オシロスコープ。モデル:ICL8038 入力:12 V直流 週波数範囲:50-5 kHz パッケージは以下を含みます: 2PCS* DIY ICL8038関数信号発生器モジュール正絃平方三角波の出力キットお客さんから頂いたアドバイス: 1、基板がしっかりと出来ているので部品配置さえ間違えなければ完成します。 調整は簡単です。改造にも向いています。 付加回路を付けて更に発展させましょう。 出力調整用のボリューム 波形切り替えセレクター 等があると便利です。 電源は+12Vの単電源です。 低い周波数を発振させるには2電源に改造をする必要があります。  ICが熱くなるようでしたら放熱のフィンを上に貼り付けて下さい。 IntersilプロトタイプのICは触るとひんやりとしますので放熱板が内蔵されている。 2、ICL8038_ICを使った低周波発振器、DDS発振器と違いアナログ発振で三角波を作り 其の波形を元に正弦波と矩形波を作っていますアナログ回路なのでVRによる電圧変化で 波形の形が変わったり周波数がそれぞれ連続で変わります, KKHMF XR2206 信号発生器 高精度 ファンクション信号発生器 DIYキット 正弦/三角/正方形 出力1Hz~1MHz 周波数振幅調整可能 「国内配送」, Ren He XR2206 信号発生器 低周波発振器 オーディオ シグナル DIY 正弦/三角/正方形出力 1Hz〜1MHz 周波数振幅調整可能, KKmoon XR2206 信号発生器 高精度 ファンクション信号発生器 DIYキット 正弦/三角/正方形 出力1Hz〜1MHz 周波数振幅調整可能, ICL8038 10Hz-450kHz 低周波発振器 オーディオ シグナル ジェネレーター キット, ICL8038 50Hz-5000Hz (0.1Hz-300kHz拡張可能) 低周波発振器 オーディオ シグナル ジェネレーター キット, KKmoon 信号発生器 デジタル信号発生器 DDS信号発生器 デュアルチャンネル信号発生器 任意波形 周波数計 200MSa/s 25MHz (60MHz). ELEGOO Arduino用UNO R3スターターキット レベルアップ チュートリアル付 mega2560 r3 nano... KKmoon XR2206 信号発生器 高精度 ファンクション信号発生器 DIYキット 正弦/三角/正方形 出力1Hz〜1M... 電流発生器 信号発生器モジュール、4-20mAジェネレータ調整可能なアナログ量電流, ELEGOO 400タイポイント ブレッドボード3PCS 、Arduino用ジャンパーワイヤ 4電源レール.

周波数空間で平滑化Æ最終的なスペクトル (平滑化を分割平均で行う場合は、2の前に入力時系列を. 実験でRC回路にサイン波(V=sinωt)を入力して、出力波形(コンデンサーの両端)をオシロスコープで見たのですが、微分方程式を解いてででくる Ae^-(1/RC)t {Aは定数}のところがオシロスコープにうつる波形に影響していませんでした。こ 5. 最終的なスペクトルとする。) 6. この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人日本電子部品信頼性センター  (RCJ), /財団法人日本規格協会  (JSA)  から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,, 序文  この規格は,1990 年に第 1 版として発行された IEC 60068-2-59 (Environmental testing Part 2 : Test, −Sine-beat method)  を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく, 適用範囲  この規格は,例えば,地震若しくは爆発現象,又は機械の振動によって発生する短時間の, パルス的な力又は周期的な力に遭遇することがある部品,機器及びその他の電気・電子製品(以下,供試, この試験では,固定振動数のあらかじめ規定した回数のサインビート波で供試品を加振する(, 。固定振動数としては,規定振動数と正弦波振動試験(IEC 60068-2-6 参照)によって明らかにした臨, 界振動数との両方がある。供試品の応答運動が重ならないようにするために,個々のサインビートの間に, 目的  規定の厳しさの過渡振動に耐える機器の能力をサインビート試験方法によって決定するため, 概要  この試験は,供試品の機械的弱点及び/又は特定の性能の劣化を判定すること,及び製品規, 格とともにその判定情報を用いて供試品の合否を判定することを目的とする。この試験は,供試品の機械, 製品規格には,振動中に供試品を動作させるのか,又は単に振動に耐えるだけでよいのかを,規定する。, この規格では,試験の実施方法及び与えられた点の振動測定方法を規定する。振動運動及び厳しさ(振, 振動試験では,常にある程度の技術的判断が要求されるが,供給者と購入者双方はこのことに十分注意, する必要がある。製品規格を作成する場合は,供試品とその使用に適した試験手順と厳しさの値を選択す, なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している), IEC 60068-2-59 : 1990, Environmental testing, −Part 2 : Test methods Test Fe : Vibration−Sine-beat, 引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す, る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構, 備考  IEC 60068-1 : 1988  Environmental testing−Part 1 : General and guidance Amendment 1 が,この, 備考  IEC 60068-2-6 : 1995  Environmental testing−Part 2 : Tests−Test Fc : Vibration (sinusoidal)  が,.



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